图书介绍
数字系统的故障诊断与可靠性设计PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 杨士元 著
- 出版社： 北京：清华大学出版社
- ISBN：7302011362
- 出版时间：2000
- 标注页数：341页
- 文件大小：13MB
- 文件页数：351页
- 主题词：
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图书目录
第1章 绪论1
1.1 数字系统测试的发展概况1
1.2 故障和故障模型6
1.3 自动测试与故障诊断及检测13
1.4 有关异或运算的一些问题15
参考文献18
第2章 组合逻辑电路的测试19
2.1 伪穷举法测试19
2.1.1 单输出电路19
2.1.2 多输出电路24
2.2 布尔差分法29
2.2.1 一阶布尔差分29
2.2.2 高阶布尔差分33
2.2.3 偏差分35
2.2.4 布尔微分36
2.2.5 布尔差分与布尔微分之间的关系38
2.3 组合电路的测试生成算法39
2.3.1 逻辑函数的D立方39
2.3.2 D算法44
2.3.3 PODEM算法50
2.3.4 FAN算法54
2.4 特征分析法60
2.4.1 由LFSR组成的特征分析器61
2.4.2 跳变次数计数测试69
2.4.3 症候群测试73
2.5 因果函数分析法76
2.5.1 因果函数及其主要性质77
2.5.2 用因果函数求故障检测矢量78
2.5.3 用因果函数求完全检测集79
2.6 随机测试生成技术82
2.6.1 随机测试的向量序列长度的估算83
2.6.2 随机测试的故障覆盖率的统计法估算87
2.7 完全测试集的极小化90
2.7.1 故障的合并与压缩90
2.7.2 故障测试集的极小化94
小结102
参考文献103
第3章 时序电路的测试104
3.1 时序电路的功能测试104
3.1.1 三种序列的求法104
3.1.2 同步时序电路的功能核实序列107
3.1.3 异步时序电路的功能核实序列108
3.2 同步时序电路的测试生成110
3.2.1 时序电路的组合化模型110
3.2.2 测试序列的生成111
3.2.3 扩展D算法的过程116
3.3 九值算法及其改进116
3.3.1 九值模拟117
3.3.2 算法中的几个重要步骤118
3.3.3 九值算法的算例123
3.3.4 九值算法的改进126
小结128
参考文献129
第4章 故障仿真130
4.1 并行故障仿真131
4.1.1 故障的注入131
4.1.2 故障仿真过程132
4.2 演绎故障仿真133
4.2.1 故障表及其计算方法133
4.2.2 故障表的传输与故障仿真136
4.2.3 功能级仿真138
4.3 并发性故障仿真141
4.3.1 故障表的组成及其传输141
4.3.2 与演绎法的比较142
4.4 硬件仿真器144
4.4.1 阿氏逻辑仿真机144
4.4.2 YSE系统146
4.4.3 HAL硬件仿真器146
小结147
参考文献148
第5章 可测性设计149
5.1 可测性设计的意义和发展概况149
5.2 可测性度量151
5.2.1 史蒂文森可测性度量152
5.2.2 高尔德斯泰可测性度量160
5.2.3 可测性度量在CAMELOT中的应用163
5.3 改善组合电路可测性的一般方法168
5.3.1 减少测试矢量生成开销的措施168
5.3.2 减少测试施加开销的措施172
5.4 扫描电路设计182
5.5 内测试189
5.6 边界扫描技术和IEEE 1149.1标准195
5.6.1 边界扫描技术的基本原理195
5.6.2 边界扫描设计的硬件结构和IEEE 1149.1标准196
5.6.3 指令204
5.6.4 边界扫描设计的功能完备性测试206
5.6.5 边界扫描测试软件的开发208
5.7 PLA的故障检测与可测性设计214
5.7.1 PLA的结构214
5.7.2 PLA的故障模型215
5.7.3 PLA的故障检测217
5.7.4 PLA的可测性设计227
5.8 可测性设计的工艺措施235
小结240
参考文献241
6.1.1 描述系统可靠性的基本参数243
第6章 可靠性设计243
6.1 可靠性的基本概念243
6.1.2 基本结构的可靠性分析248
6.2 复杂系统的可靠性分析250
6.2.1 二项式展开法250
6.2.2 网络分解法251
6.2.3 最小路集法和最小割集法252
6.2.4 从三角形到星形的转换255
6.2.5 应用马尔科夫过程求可维修系统的可靠性257
6.3 故障容错技术264
6.3.1 三模冗余264
6.3.2 多模冗余结构271
6.3.3 筛选模块冗余结构274
6.4 编码检错技术277
6.4.1 检测码、校正码和容错码277
6.4.2 奇偶校验码278
6.4.3 剩余码检测284
6.4.4 多故障检测代码286
6.5 自检测试设计287
6.5.1 码字和码字空间287
6.5.2 m/n码全自检电路289
6.5.3 波格码全自检电路299
6.5.4 时序电路的自检设计305
6.6 事故安全设计310
6.7 软件容错技术315
6.7.1 软件容错技术315
6.7.2 提高软件可靠性的方法概要316
小结319
参考文献320
习题322
部分习题答案或提示333
附录主要缩略语一览340