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集成电路芯片测试
  • 王芳,徐振主编;曹昕鸷,陈沉,梅鲁海,彭勇副主编 著
  • 出版社: 杭州:浙江大学出版社
  • ISBN:9787308129763
  • 出版时间:2014
  • 标注页数:183页
  • 文件大小:23MB
  • 文件页数:190页
  • 主题词:集成电路-芯片-测试

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图书目录

管理篇3

第1章 员工行为规范3

1.1 道德规范及礼仪3

1.2 员工职务行为准则5

第2章 质量与环境体系要求7

2.1 5S管理7

2.2 ISO9001:2000质量管理体系知识9

2.3 ISO14001:2004环境管理体系要求19

第3章 净化车间防静电管理要求28

3.1 静电28

3.2 如何在电子行业有效地防止静电30

3.3 电路测试的防静电措施32

基础篇37

第4章 C语句基础知识37

4.1 C语言的数据类型、运算符和表达式37

4.2 C语言程序的语句45

4.3 C语言的数组53

4.4 C语言的函数56

4.5 SC6122测试程序简介64

第5章 常用电子元器件及常用测试仪器74

5.1 常用电子元器件74

5.2 芯片测试常用传感器75

5.3 常用测试仪器77

封装篇83

第6章 集成电路生产制造流程83

6.1 集成电路流片工艺流程83

6.2 集成电路封装工艺流程86

6.3 集成电路测试流程92

测试篇105

第7章 LK8810数模集成电路测试系统介绍105

7.1 LK8810数模集成电路测试系统硬件105

7.2 软件说明111

7.3 硬件说明125

第8章 LK2150AT自动分选机系统介绍127

8.1 绪论127

8.2 IC自动分选机性能128

8.3 人机界面操作说明131

8.4 电气线路说明146

8.5 日常维护保养说明157

第9章 集成电路测试实例166

9.1 遥控产品测试实现166

9.2 风扇产品测试实现168

9.3 电话机产品测试实现174

9.4 显示产品测试实现176

9.5 电表产品测试实现180

参考文献183

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