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电子技术实验与课程设计
  • 赵淑英,董鹏中主编 著
  • 出版社: 北京:清华大学出版社
  • ISBN:9787302220343
  • 出版时间:2010
  • 标注页数:370页
  • 文件大小:13MB
  • 文件页数:381页
  • 主题词:电子技术-实验-高等学校-教材;电子技术-课程设计-高等学校-教材

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图书目录

第一篇 模拟电子技术基础3

第1章 验证性实验3

1.1 常用电子仪器使用练习Ⅰ3

1.2 常用电子仪器使用练习Ⅱ8

1.3 晶体管参数测试与应用15

1.4 低频单管放大电路20

1.5 共射单管分压式偏置电路25

1.6 结型场效应管放大电路32

1.7 射极跟随器37

1.8 自举射极跟随器40

1.9 压控振荡器41

1.10 固定集成三端稳压电路43

1.11 可调集成三端稳压电路44

第2章 提高性实验46

2.1 负反馈放大电路46

2.2 差动放大电路50

2.3 功率放大电路54

2.4 集成功率放大电路57

2.5 集成运算放大器性能指标测试61

第3章 应用性实验68

3.1 集成运放比例、积分、微分运算电路68

3.2 RC文氏电桥正弦波振荡电路Ⅰ71

3.3 RC文氏电桥正弦波振荡电路Ⅱ74

3.4 LC正弦波振荡电路77

3.5 集成运算放大器非线性应用80

3.6 集成运算放大器有源滤波器应用82

3.7 集成运算放大器电压比较器应用87

3.8 集成运算放大器波形发生器应用91

第4章 设计性与综合性实验97

4.1 晶体管放大电路设计97

4.2 直流稳压电源107

4.3 串联型晶体管稳压电源设计113

4.4 集成直流稳压电源设计118

4.5 用运算放大器组成万用电表的设计与调试124

第二篇 数字电子技术基础131

第5章 验证性实验131

5.1 门电路逻辑功能及测试131

5.2 门电路驱动能力测试134

5.3 触发器逻辑功能测试137

5.4 集成计数器测试139

5.5 晶体管开关特性、限幅器与钳位器测试141

5.6 TTL门电路逻辑功能及参数测试146

5.7 CMOS电路逻辑功能及参数测试152

第6章 提高性实验155

6.1 计数、译码、显示电路155

6.2 TTL与CMOS相互连接实验157

6.3 电压变换器160

6.4 集成逻辑电路的连接和驱动能力161

6.5 自激多谐振荡器165

第7章 应用性实验169

7.1 触发器及其应用169

7.2 计数器MSI芯片的应用171

7.3 施密特触发器及其应用174

7.4 译码器及其应用177

7.5 数据选择器及其应用183

7.6 计数器及其应用187

7.7 移位寄存器及其应用193

7.8 单稳态触发器及其应用199

7.9 555时基电路及其应用203

第8章 设计性与综合性实验209

8.1 组合逻辑电路设计209

8.2 时序逻辑电路设计210

8.3 石英晶体振荡器设计211

8.4 电子校音器213

8.5 示波器多踪显示接口214

8.6 智力竞赛抢答装置设计216

8.7 数字电子秒表设计218

8.8 A/D、D/A转换器222

第三篇 电子技术基础课程设计第9章 模拟电子技术课程设计231

9.1 直流稳压电源与充电电源231

9.2 音响放大器238

9.3 水温控制系统245

9.4 电冰箱保护器248

9.5 数字逻辑信号测试系统252

9.6 温度监测及控制系统257

9.7 函数信号发生器263

第10章 数字电子技术课程设计267

10.1 四位半直流数字电压表267

10.2 数字电子钟274

10.3 数字电子秤277

10.4 数字温度计286

10.5 多路智力抢答器292

10.6 数字频率计298

10.7 红外线数字转速表305

第四篇 常用电子仪器313

第11章 通用电子仪器313

11.1 DF4321双踪示波器313

11.2 EM1644函数信号发生器318

11.3 EE1411型合成函数信号发生器320

11.4 EM2171单通道交流毫伏表324

11.5 DF1731SL双路直流稳压电源325

11.6 NFC多功能计数器328

11.7 MOS—620CH双踪示波器330

第12章 专用电子设备339

12.1 XCTS—1晶体管特性图示仪使用说明339

12.2 模拟电路实验系统340

12.3 数字电路实验系统340

12.4 KHM—2型模拟电路实验装置342

附录A 用万用表测量晶体二极管、三极管及放大器性能指标347

附录B 常用电路元件、器件识别及测试353

附录C 焊接基本知识355

附录D 标准逻辑符号与旧逻辑符号对照357

附录E 部分集成电路引脚排列358

附录F 实验规则和实验报告的要求369

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