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第一章 绪论1

第一节 X射线荧光光谱的产生及其特点1

第二节 X射线荧光分析技术的新应用1

一、在生物、生命及环境领域中的应用1

二、在材料及毒性物品监测中的应用2

第三节 X射线荧光光谱仪研制进展2

参考文献3

第二章 基本原理4

第一节 特征X射线的产生与特性4

一、特征X射线4

二、特征谱线系5

三、谱线相对强度8

四、荧光产额8

第二节 X射线吸收9

一、X射线衰减9

二、吸收边9

三、吸收跃变10

四、质量衰减系数的计算10

第三节 X射线散射11

一、相干散射11

二、非相干散射11

第四节 X射线荧光光谱分析原理13

第五节 X射线衍射分析13

参考文献14

第三章 激发源15

第一节 常规X射线光管15

一、光管结构与工作原理15

二、连续X射线谱16

三、特征X射线谱16

四、光管特性17

第二节 液体金属阳极X射线光管18

第三节 冷X射线光管19

第四节 单色与选择激发19

一、滤光片19

二、二次靶20

第五节 同位素源20

第六节 同步辐射光源与粒子激发21

第七节 聚束毛细管X射线透镜22

第八节 X射线激光光源23

参考文献24

第四章 探测器25

第一节 波长色散探测器25

一、流气式气体正比计数器25

二、NaI闪烁计数器26

三、波长色散探测器的逃逸峰27

第二节 能量探测器28

一、能量探测原理28

二、能量探测器组成与特性28

三、能量探测器的逃逸峰30

第三节 新型能量探测器30

一、Ge探测器30

二、Si-PIN探测器31

三、Si漂移探测器（SDD）34

四、电耦合阵列探测器（CDD）35

五、超导跃变微热量感应器（TES）35

六、超导隧道结探测器（STJ）36

七、CdZnTe探测器37

八、钻石探测器（CVD-D）39

九、无定形硅探测器（A-Si）40

第四节 各种探测器性能比较41

一、波长色散与能量色散能力41

二、探测器分辨率比较41

三、探测器的选用42

参考文献44

第五章 X荧光光谱仪47

第一节 波长色散X射线荧光光谱仪47

一、X射线光管、探测器与光谱仪结构47

二、分光晶体及分辨率48

三、脉冲放大器和脉高分析器48

第二节 能量色散X射线荧光光谱仪50

第三节 同位素源激发X射线荧光光谱仪51

第四节 偏振激发X射线荧光光谱仪52

第五节 全反射X射线荧光光谱仪53

第六节 同步辐射X射线荧光光谱仪55

第七节 聚束毛细管透镜微束XRF光谱仪56

参考文献57

第六章 定性与定量分析方法58

第一节 定性分析58

第二节 定量分析59

一、获取谱峰净强度60

二、干扰校正60

三、浓度计算61

第三节 数学校正法62

第四节 实验校正方法62

一、标准化62

二、内标法63

三、标准添加法64

四、散射线内标法64

第五节 实验校正实例——散射线校正方法64

一、散射效应与利用64

二、滤光片对Compton峰和分析谱线的影响65

三、准直器直径对谱线的影响67

四、Compton峰位随滤光片材料的原子序数增加而产生漂移68

参考文献69

第七章 基本校正71

第一节 基本参数法72

一、理论荧光强度72

二、相关基本参数计算75

三、基本参数法76

第二节 理论校正系数77

一、基本影响系数77

二、理论校正系数81

三、系数变换84

参考文献85

第八章 分析误差和统计不确定87

第一节 分析误差和分布函数87

一、分析误差87

二、分布函数88

第二节 计数统计学88

第三节 灵敏度、检出限及XRF中的误差来源89

一、灵敏度和检出限89

二、XRF中的误差来源90

第四节 不确定度及不确定度计算90

一、测量不确定度90

二、统计不确定度91

三、误差传递与不确定度91

四、不确定度计算式92

五、平均值的不确定度计算93

六、统计波动94

参考文献94

第九章 XRF中的化学计量学方法和应用96

第一节 曲线拟合与遗传算法96

一、遗传算法97

二、遗传算法在XRF中的应用97

三、不同拟合方法的比较98

第二节 基体校正与神经网络99

一、神经网络的发展与学习规则100

二、神经网络模型——误差反传学习算法100

三、神经网络及相关化学计量学方法在XRF中的应用101

第三节 模式识别102

一、模式识别方法与特性102

二、支持向量机103

三、模式识别方法在XRF中的应用103

参考文献104

第十章 样品制备107

第一节 制样技术分类107

第二节 分析制样中的一般问题109

一、样品的表面状态109

二、不均匀性效应110

三、样品粒度与制样压力110

四、X射线分析深度与样品厚度111

五、样品的光化学分解113

六、其他问题113

七、试样装入114

八、污染控制115

九、测定时须小心的样品116

第三节 金属样品的制备116

一、取样116

二、金属样品的制备方法117

第四节 粉末样品的制备118

一、粉末压片法118

二、玻璃熔片法121

三、松散粉末法126

第五节 液体样品127

一、液体法128

二、点滴法129

三、富集法129

四、固化法130

第六节 其他类型样品的制备130

一、塑料样品的制备方法130

二、放射性样品131

第七节 微少量、微小样品的制备131

第八节 低原子序数元素分析的特殊问题133

第九节 样品制备实例134

一、全岩分析134

二、石灰、白云石石灰和铁石灰138

三、石灰石、白云石和菱镁矿139

四、天然石膏及石膏副产品140

五、玻璃砂142

六、水泥144

七、氧化铝145

八、电解液146

九、煤衍生物——沥青147

十、树叶和植物149

参考文献150

第十一章 X射线荧光光谱仪的特性与参数选择153

第一节 波长色散型X射线荧光光谱仪的特性与技术进展153

第二节 X射线高压发生器154

第三节 X射线光管特性与选择使用154

第四节 滤光片、狭缝和准直器156

第五节 晶体适用范围及其选择157

第六节 2θ联动装置161

第七节 测角仪161

第八节 探测器特性与使用162

一、闪烁计数器163

二、气体正比计数器163

三、探测器的选择标准165

第九节 脉冲高度分析器166

第十节 实验参数的选择169

一、仪器参数的选择169

二、光学参数的选择170

三、探测器与测量参数的选择172

第十一节 能量色散XRF光谱仪的特性和注意事项173

第十二节 全反射X射线荧光光谱仪特性与设计要点174

参考文献175

第十二章 仪器检定、校正与维修176

第一节 仪器检定176

一、实验室条件176

二、检验项目及测量方法176

三、技术指标178

第二节 脉冲高度分析器的调整及仪器漂移的标正179

一、脉冲高度分析器的调整179

二、仪器漂移的校正180

第三节 日常维护180

一、真空泵油位检查180

二、P10气体的更换181

三、高压漏气检测181

四、密闭冷却水循环系统的检测181

五、检查初级水过滤器182

六、X射线光管的老化182

七、日常检查项目182

第四节 常见故障及维护182

一、机械问题183

二、X射线高压发生器183

三、真空度不好183

四、探测器的故障184

五、样品室灰尘的清扫184

第五节 仪器选型常用标准与判据185

一、硬件185

二、软件185

参考文献188