图书介绍
芯片接口库I/O Library和ESD电路的研发设计应用PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 王国立著 著
- 出版社： 北京：人民邮电出版社
- ISBN：9787115487063
- 出版时间：2018
- 标注页数：185页
- 文件大小：36MB
- 文件页数：193页
- 主题词：接口芯片－电路设计
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图书目录
第1章 I/O Library介绍1
1.1 I/O Library的特征1
1.2 I/O Library的设计流程4
1.3 研究工艺的特点5
1.4 设计测试芯片6
1.5 ESD测试模块7
第2章 ESD——I/O Library的第一道墙11
2.1 ESD现象11
2.2 半导体芯片中的ESD失败现象12
2.3 电路可靠性—ESD测试模型16
2.4 ESD标准测试模型的测试组合25
2.5 ESD标准测试模型的测试误差28
2.6 输入／输出管脚ESD器件的设计和布局29
参考文献75
第3章 闩锁和保护环77
3.1 闩锁的机理77
3.2 防止闩锁的方法79
3.3 Latch-up的测试方法88
参考文献94
第4章 I/O电路设计95
4.1 通用型I/O数据规范和设计95
4.2 传输线现象96
4.3 GPIO的输出模块100
4.4 GPIO的输入模块114
4.5 模拟输入信号117
4.6 混合电压输入／输出电路120
4.7 高压容忍电路中的输入／输出电路125
4.8 输出电路的布局128
4.9 I/O的电源线分布132
4.10 Bond PAD的位置和布局134
4.11 内核面积决定化和PAD面积决定化136
参考文献139
第5章 高速I/O电路141
5.1 电路补偿141
5.2 DDR146
5.3 LVDS150
参考文献154
第6章 I/O Library的模型155
6.1 综合模型155
6.2 行为模型169
6.3 IBIS模型171
参考文献181
结束语183