图书介绍
X 射红衍射分析技术PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 晋勇，孙小松，薛屺编著 著
- 出版社： 北京：国防工业出版社
- ISBN：9787118057782
- 出版时间：2008
- 标注页数：302页
- 文件大小：84MB
- 文件页数：310页
- 主题词：X射线衍射分析
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图书目录
绪论1
第1章 X射线物理学基础6
X射线的产生及其性质6
X射线谱14
X射线与物质的相互作用21
X射线的衰减规律及其应用26
X射线的探测与防护31
习题32
第2章 晶体和空间点阵34
晶体的概念34
对称结构与点阵38
晶胞、晶系和空间点阵形式41
阵点坐标、晶向指数、晶面指数和晶面间距45
倒易点阵51
晶体的投影59
晶带和晶体的标准极图63
晶体的对称性68
点群77
空间群84
晶体的外形90
晶体结构符号92
习题93
第3章 X射线衍射方向94
劳厄方程95
布拉格方程99
衍射矢量方程和厄瓦尔德图解103
X射线衍射实验方法概述104
习题111
第4章 X射线衍射强度112
晶胞中原子位置与衍射线束强度间的关系112
一个电子的散射113
一个原子的散射115
一个晶胞对X射线的散射119
影响衍射强度的几种因子122
粉末晶体衍射强度计算135
习题138
第5章 X射线衍射方法140
X射线源141
测角仪143
单色器146
辐射探测器148
测量系统152
试样的制备方法153
仪器条件的准备158
具体实验条件的选定158
衍射数据采集和数据处理的自动化163
习题172
第6章 X射线物相分析173
物相定性分析原理173
粉末衍射数据库174
定性相分析的一般步骤184
物相定量分析192
习题208
第7章 点阵常数的精确测定210
X射线衍射图谱指标化210
利用计算机和专业软件进行指标化215
晶胞参数的精确测定220
精确测定晶胞参数的方法223
点阵常数精确测定的应用227
利用专用软件计算晶格常数232
习题233
第8章 宏观残余应力的测定235
内应力的产生与分类235
X射线测定应力的基本原理238
X射线宏观残余应力测定方法242
残余应力计算软件的使用245
习题248
第9章 晶粒尺寸和微观应力的测定249
X射线谱线的宽化249
仪器宽度的扣除253
晶粒细化和微观应力两种物理宽化量的分离253
利用专用软件同时测定晶粒尺寸和微观应变254
习题260
第10章 全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件261
Rietveld方法的基本原理262
Rietveld方法中衍射峰的线形分析264
Rietveld分析中的校正267
Rietveld结构精修方法与步骤269
Rietveld方法的相定量分析271
全谱拟合与Rietveld精修计算软件274
习题290
附录1 质量吸收系数291
附录2 原子散射因子294
附录3 角因子（洛伦兹-偏振因子）298
参考文献301