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第1章　检测半导体二极管1

1.1 判定二极管正、负极的方法1

目录1

1.2　检测二极管质量好坏的方法2

1.3　区分硅二极管与锗二极管的方法2

1.3.1 区分硅二极管与锗二极管方法之一2

1.3.2　区分硅二极管与锗二极管方法之二3

1.4　检测片状二极管的方法3

1.4.1　片状电子元器件的分类及特点3

1.4.2　用万用表检测片状二极管和整流管4

1.5　测量二极管反向击穿电压的方法5

1.6　测绘二极管伏安特性的方法6

1.6.1　测绘二极管的伏安特性方法之—6

1.6.2　测绘二极管的伏安特性方法之二8

1.7　检测高速开关二极管的方法10

2.1　检测快恢复、超快恢复二极管的方法12

2.1.1　快恢复及超快恢复二极管的性能特点12

第2章　检测特种半导体二极管12

2.1.2　快恢复及超快恢复二极管的检测方法15

2.2　检测肖特基二极管的方法15

2.2.1 肖特基二极管的工作原理16

2.2.2　检测肖特基二极管的方法17

2.3　检测隧道二极管的方法18

2.3.1　隧道二极管的工作原理18

2.4　检测变容二极管的方法19

2.3.2　检测隧道二极管的方法19

2.4.1　变容二极管的构造原理20

2.4.2　检测变容二极管的方法21

第3章　检测稳压管23

3.1　稳压管的产品分类23

3.2　区分稳压管与二极管的方法25

3.2.1 区分稳压管与二极管方法之一25

3.2.2　区分稳压管与二极管方法之二26

3.3　检测稳压管质量好坏的方法27

3.4.1　测量稳压管稳定电压方法之一28

3.4.2　测量稳压管稳定电压方法之二28

3.4　测量稳压管稳定电压的方法28

3.4.3　测量稳压管稳定电压方法之三29

3.5　测绘稳压管伏安特性的方法30

第4章　检测恒流源32

4.1　恒流源的产品分类32

4.2　检测恒流二极管的方法33

4.2.1　恒流二极管的原理与应用33

4.2.2　检测恒流二极管的方法36

4.3　检测恒流三极管的方法37

4.3.1　恒流三极管的原理与应用38

4.3.2　检测恒流三极管的方法40

4.4　检测可调式精密集成恒流源的方法40

4.4.1　可调式精密集成恒流源的原理与应用41

4.4.2　LM334型三端可调式集成恒流源的原理与应用43

4.4.3　检测可调式精密集成恒流源的方法44

4.5　测绘稳流管伏安特性的方法44

4.5.1　稳流管的工作原理45

4.5.2　稳流管的典型应用46

4.5.3　测绘稳流管伏安特性的方法47

5.1　检测整流二极管的方法48

5.1.1　塑封硅整流二极管的产品分类48

第5章　检测整流器件48

5.1.2　检测塑封硅整流二极管的方法49

5.2　检测整流桥的方法50

5.2.1　检测整流桥的方法50

5.2.2　检测整流桥时的注意事项51

5.3　检测高压硅堆的方法52

5.3.2　检测高压硅堆方法之二53

5.3.1　检测高压硅堆方法之一53

5.3.3　检测高压硅堆方法之三54

5.3.4　检测高压硅堆方法之四54

第6章　检测双极型晶体管56

6.1　判定晶体管电极的方法56

6.2　准确判定晶体管C、E电极的方法57

6.3　区分硅晶体管与锗晶体管的方法58

6.3.1 区分硅晶体管与锗晶体管方法之58

6.3.2　区分硅晶体管与锗晶体管方法之二59

6.4.1　根据管子型号来区分60

6.4　区分高频管与低频管的方法60

6.4.2　根据发射结反向电阻来区分61

6.5　测量晶体管穿透电流的方法62

6.6　测量晶体管反向截止电流的方法63

6.6.1　测量晶体管集电极-基极反向截止电流的方法63

6.6.2　测量晶体管发射极-基极反向截止电流的方法64

6.7　测量晶体管击穿电压的方法64

6.7.3　测量晶体管发射极-基极其他击穿电压参数的方法65

6.7.2　测量晶体管集电极-基极击穿电压的方法65

6.7.1　测量晶体管集电极-发射极击穿电压U（BRR）CEO的方法65

6.7.4　测量晶体管集电极-发射极击穿电压的方法66

6.8　估测晶体管放大能力的方法66

6.8.1　估测晶体管放大能力方法之一66

6.8.2　估测晶体管放大能力方法之二67

6.9　估测晶体管hFE的方法67

6.9.1　估测晶体管hFE方法之一68

6.9.2　估测晶体管hFE方法之二68

6.10　准确测量晶体管hFE的简便方法70

6.11　测量在线晶体管hFE的方法72

6.12　测量晶体管hFE的一般方法73

6.13　利用LI刻度线测量晶体管hFE的方法74

6.14　检测片状晶体管的方法75

6.15　判定晶体管工作状态的方法76

6.16　测绘晶体管正向AGC特性的方法76

6.17　晶体管放大器故障速查法78

6.18　估测功率晶体管放大能力的方法79

6.19　估测功率晶体管hFE的方法80

6.20　检测功率开关管的方法81

6.21　检测达林顿管的方法81

6.21.1　检测普通型达林顿管的方法82

6.21.2　检测改进型达林顿管的方法83

6.22　检测微型高增益达林顿管的方法84

6.23　检测巨型晶体管的方法85

6.24　检测差分对管的方法88

6.25　检测互补对管的方法89

7.1　判定结型场效应管电极的方法90

7.1.1　判定结型场效应管电极方法之一90

第7章　检测场效应管90

7.1.2　判定结型场效应管电极方法之二92

7.2　检查结型场效应管质量好坏的方法92

7.3　估测结型场效应管放大能力的方法93

7.3.1　估测结型场效应管放大能力方法之一93

7.3.2　估测结型场效应管放大能力方法之二94

7.4　测量结型场效应管漏-源通态电阻及零偏压跨导的方法94

7.5　测量结型场效应管栅-源截止电压的方法95

7.6　测量结型场效应管零偏压漏极电流及饱和区跨导的方法96

7.7　测量结型场效应管击穿电压的方法97

7.8　检测MOS场效应管的方法98

7.9　检测VMOS场效应管的方法100

7.10　检测IGBT的方法102

7.10.1 IGBT的结构特点102

7.10.2 IGBT模块的使用要点及检测方法104

第8章　检测单结晶体管105

8.1　判定单结晶体管电极的方法105

8.1.1　单结晶体管的结构原理105

8.1.2　判定单结晶体管电极的方法106

8.2.1　检查单结晶体管触发能力方法之一107

8.2　检查单结晶体管触发能力的方法107

8.2.2　检查单结晶体管触发能力方法之二108

8.3　估测单结晶体管分压比及峰值电压的方法109

8.3.1　估测单结晶体管分压比的方法109

8.3.2　计算单结晶体管峰值电压的方法109

8.4　测量单结晶体管分压比的方法110

8.4.1 测量单结晶体管分压比方法之一110

8.4.2　测量单结晶体管分压比方法之二112

8.5　测量程控单结晶体管的方法113

8.5.1　程控单结晶体管的工作原理114

8.5.2　测量程控单结晶体管的方法115

第9章　检测晶闸管117

9.1 判定普通晶闸管和快速晶闸管电极的方法117

9.1.1 晶闸管的结构特点117

9.1.2　判定普通晶闸管及快速晶闸管电极的方法118

9.2　检查晶闸管触发能力的方法119

9.2.1　检查晶闸管触发能力的方法之一119

9.2.2　检查晶闸管触发能力的方法之二119

9.2.4　检查晶闸管触发能力的方法之四120

9.2.3　检查晶闸管触发能力的方法之三120

9.3　测量晶闸管断态峰值电压的方法121

9.4　判定双向晶闸管的电极并检查触发能力的方法122

9.4.1　双向晶闸管的结构122

9.4.2　检测双向晶闸管电极的方法123

9.5　检查大功率双向晶闸管触发能力的方法124

9.6　检测双向晶闸管质量好坏的方法125

9.6.1　检查双向晶闸管质量好坏的方法之一125

9.6.2　检查双向晶闸管质量好坏的方法之二126

9.7.2　检测双向触发管的方法127

9.7.1　双向触发管的结构原理127

9.7　检测双向触发二极管的方法127

9.8　检测硅单向开关的方法128

9.8.1　硅单向开关的结构原理128

9.8.2　检测硅单向开关的方法129

9.9　检测硅双向开关的方法130

9.10　检测可关断晶闸管的方法131

9.10.1 可关断晶闸管的结构特点132

9.10.2　检测可关断晶闸管的方法132

9.11.1　硅控制开关的结构原理134

9.11　检测硅控制开关的方法134

9.11.2　检测硅控制开关的方法136

9.12　检测逆导晶闸管的方法137

9.12.1　逆导晶闸管的结构原理137

9.12.2　检测逆导晶闸管的方法137

第10章　检测光电器件139

10.1　检测单色发光二极管的方法139

10.1.1　单色发光二极管的工作原理139

10.1.3　检查单色发光二极管方法之二143

10.1.2　检查单色发光二极管方法之一143

10.1.4　检查单色发光二极管方法之三145

10.1.5　检查单色发光二极管方法之四146

10.1.6　检查单色发光二极管方法之五146

10.2　区分高亮度、低亮度发光二极管的方法147

10.3　检测微型发光二极管的方法147

10.4　检测蓝色高亮度发光二极管的方法148

10.4.1 蓝光LED的性能特点148

10.5　检测白色高亮度发光二极管的方法149

10.4.2　检测蓝光LED的方法149

10.5.1 白光LED的性能特点150

10.5.2　检测白光LED的方法151

10.6　检测双色发光二极管的方法151

10.7　检测三变色发光二极管的方法152

10.7.1　三变色发光二极管的性能特点152

10.7.2　检查三变色发光二极管方法之一153

10.7.3　检查三变色发光二极管方法之二154

10.8　测量发光二极管正向电压的方法154

10.9　同时测量发光二极管正向电流和正向电压的方法155

10.10　测绘发光二极管伏安特性的方法156

10.10.1　测绘发光二极管的伏安特性方法之一156

10.10.2　测绘发光二极管的伏安特性方法之二158

10.11　测绘变色发光二极管伏安特性的方法158

10.12　检测电压控制型发光二极管的方法160

10.12.1 电压控制型发光二极管的工作原理160

10.12.2　检测电压控制型发光二极管方法之一161

10.12.3　检测电压控制型发光二极管方法之二162

10.13.1 闪烁发光二极管的工作原理163

10.13　检测闪烁发光二极管的方法163

10.13.2　检查闪烁发光二极管方法之一165

10.13.3　检查闪烁发光二极管方法之二165

10.14　检测负阻型发光二接管的方法167

10.15　检测光电管的方法167

10.15.1　光电管的工作原理167

10.15.2　检测光电管的方法169

10.16　检测光电二极管的方法169

10.16.1　光电二极管的性能特点169

10.16.2　检测光电二极管的方法170

10.17　检测光敏三极管的方法170

10.18　检测红外发射、接收对管的方法172

10.18.1　红外发射管与接收管的性能特点172

10.18.2　检测红外发射、接收对管的方法173

10.18.3　检测微型发射、接收对管174

10.19　检测光电开关的方法175

10.19.1　检查透射型光电开关175

10.19.2　检查反射型光电开关176

10.20　检测光敏电阻的方法177

第11章　检测光耦合器178

11.1　检测光耦合器的方法178

11.1.1　光耦合器的类型及性能特点178

11.1.2　利用万用表检测光耦合器的方法180

11.2　测量光耦合器主要参数的方法181

11.2.1　测量UF、UBC、UBE182

11.2.2　测量hRE182

11.3　估测光耦合器电流传输能力的方法182

11.4　测量光耦合器电流传输比的方法183

11.5　区分通用型与达林顿型光耦合器的方法184

11.5.1 区分通用型与达林顿型光耦合器方法之一184

11.5.2　区分通用型与达林顿型光耦合器方法之二185

11.6　检测线性光耦合器的方法185

11.6.1　线性光耦合器的产品分类及选取原则185

11.6.2　检测线性光耦合器的方法187

12.1　常用显示器件的产品分类188

第12章　检测显示器件188

12.2　检测辉光数码管的方法189

12.2.1　辉光数码管的性能特点189

12.2.2　检测辉光数码管的方法190

12.3　检测荧光数码管的方法191

12.3.1　荧光数码管的性能特点191

12.3.2　检测荧光数码管的方法192

12.4　检测LED数码管的方法193

12.4.1　LED数码管的性能特点193

12.4.2　检测LED数码管方法之一194

12.4.3　检测LED数码管方法之二195

12.5　检测大型LED数码管的方法197

12.6　区分高亮度、普通亮度LED数码管的方法198

12.7　检测LED符号管的方法199

12.8　检测LED电平显示器的方法200

12.9　检测LED条图显示器的方法201

12.9.1　LED条图的结构202

12.9.2　LED条图显示仪表的电路原理204

12.10.1　检测双位LED数码管的方法206

12.10　检测双位及三位LED数码管的方法206

12.9.3　检测LED条图显示器的方法206

12.10.2　检测三位LED数码管的方法207

12.11　检测多位LED扫描显示器的方法208

12.12　检测单色LED点阵显示器的方法210

12.12.1　单色LED点阵显示器的性能特点210

12.12.2　字符编码方式210

12.12.3　检测单色LED点阵显示器方法之一213

12.12.4　检测单色LED点阵显示器方法之二213

12.12.5　检测单色LED点阵显示器方法之三213

12.12.6　汉字点阵提取工具v1.0214

12.13　检测彩色LED点阵显示器的方法217

12.13.1　彩色LED点阵显示器的结构特点217

12.13.2　检测彩色LED点阵显示器的方法219

12.14　检测微型化多位LED点阵显示器的方法219

12.14.1　微型化多位LED点阵显示器的性能特点220

12.14.2　检测微型化多位LED点阵显示器的方法221

12.15　检测LED面发光器件的方法222

12.15.1　LED面发光器件的性能特点222

12.16.1　CL组件的产品分类223

12.15.2　检测LED面发光器件的方法223

12.16　检测CMOS-LED组件的方法223

12.16.2　检测CL组件的方法224

12.17　检测多位CMOS-LED组件的方法226

12.17.1 多位CL组件的产品分类及构造原理226

12.17.2　检测多位CL组件的方法227

12.18　检测静态驱动式LCD的方法229

12.18.1　液晶显示器的性能特点与工作原理229

12.18.2　检测液晶显示器的方法230

12.19　检测扫描驱动式LCD的方法231

12.20　检测LCD点阵显示器的方法233

12.20.1　液晶点阵显示器的特点233

12.20.2　检测液晶点阵显示器的方法234

12.21　检测CRT像元管的方法234

12.21.1　像元管的构造原理及应用234

12.21.2　检测像元管的方法236

12.22　检测磁翻板显示器的方法236

参考文献239