图书介绍
半导体集成电路国家标准汇编 1PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 半导体集成电路标准汇编2组 著
- 出版社: 北京:中国标准出版社
- ISBN:7506604272
- 出版时间:1991
- 标注页数:884页
- 文件大小:87MB
- 文件页数:890页
- 主题词:
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图书目录
专业基础标准3
GB 9178—88集成电路术语3
GB 3430—89半导体集成电路型号命名方法76
GB 5839—86 电子管和半导体器件额定值制79
GB 3431.1—82半导体集成电路文字符号 电参数文字符号81
GB 3431.2—86半导体集成电路文字符号 引出端功能符号95
GB 4590—84半导体集成电路机械和气候试验方法101
GB 4719—84半导体集成电路新产品定型鉴定的程序规则150
GB 7092—86半导体集成电路外形尺寸161
GB 6649—86半导体集成电路外壳总规范194
GB 8976—88膜集成电路和混合膜集成电路总规范218
数字集成电路243
GB 3439—82半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理243
GB 3433—82半导体集成电路HTL电路系列和品种277
GB 3440—82半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理308
GB 3434—86半导体集成电路ECL电路系列和品种324
GB 3441—82半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理432
GB 3435—87半导体集成CMOS电路系列和品种4000系列的品种447
GB 3834—83半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理576
GB 3437—82半导体集成电路MOS存储器系列和品种614
GB 3438—82半导体集成电路双极型存储器系列和品种674
GB 3443—82半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理723
GB 3444—82半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理754
GB 6647—86半导体集成电路4位微型机电路系列和品种787
GB 7504—87半导体集成微型计算机电路系列和品种2900系列的品种834