图书介绍
宇航大规模集成电路保证技术PDF|Epub|txt|kindle电子书版本网盘下载
- 朱恒静等编著 著
- 出版社： 西安：西北工业大学出版社
- ISBN：9787561250679
- 出版时间：2016
- 标注页数：421页
- 文件大小：72MB
- 文件页数：432页
- 主题词：航天器－元器件－大规模集成电路
PDF下载
下载说明
宇航大规模集成电路保证技术PDF格式电子书版下载
下载的文件为RAR压缩包。需要使用解压软件进行解压得到PDF格式图书。建议使用BT下载工具Free Download Manager进行下载,简称FDM(免费,没有广告,支持多平台）。本站资源全部打包为BT种子。所以需要使用专业的BT下载软件进行下载。如BitComet qBittorrent uTorrent等BT下载工具。迅雷目前由于本站不是热门资源。不推荐使用！后期资源热门了。安装了迅雷也可以迅雷进行下载！
（文件页数 要大于 标注页数，上中下等多册电子书除外）
注意：本站所有压缩包均有解压码： 点击下载压缩包解压工具
图书目录
第1章 大规模集成电路发展趋势1
1.1 概述1
1.2 集成电路发展趋势1
1.3 宇航大规模集成电路技术发展趋势16
1.4 大规模集成电路快速发展对保证技术带来的挑战33
1.5 本章小结38
第2章 大规模集成电路保证技术发展历程39
2.1 大规模集成电路宇航应用要求39
2.2 美国大规模集成电路保证40
2.3 欧洲大规模集成电路保证47
2.4 中国大规模集成电路保证55
2.5 对比分析59
2.6 本章小结60
第3章 宇航大规模集成电路保证技术体系61
3.1 大规模集成电路保证的内涵61
3.2 保证的主要内容61
3.3 保证的流程与结果评价64
3.4 保证技术体系67
3.5 本章小结69
第4章 定制集成电路过程保证70
4.1 概述70
4.2 国内外现状70
4.3 定制集成电路研发和保证72
4.4 定制集成电路过程保证77
4.5 相关技术92
4.6 本章小结108
第5章 鉴定109
5.1 鉴定的内涵109
5.2 国内外现状110
5.3 集成电路可靠性预计模型及参数111
5.4 鉴定的流程和方法130
5.5 相关技术142
5.6 本章小结168
第6章 封装可靠性评价169
6.1 概述169
6.2 封装可靠性评价的概念169
6.3 大规模集成电路典型封装和工艺170
6.4 封装可靠性评价流程176
6.5 相关技术177
6.6 典型封装可靠性评价案例184
6.7 本章小结188
第7章 失效分析、破坏性物理分析和结构分析189
7.1 概述189
7.2 失效分析技术189
7.3 破坏性物理分析技术204
7.4 结构分析技术209
7.5 本章小结220
第8章 应用验证221
8.1 概述221
8.2 国内外现状及趋势221
8.3 应用验证与产品成熟度224
8.4 应用验证的实施225
8.5 应用验证技术226
8.6 本章小结238
第9章 大规模集成电路抗辐射保证239
9.1 概述239
9.2 空间辐射环境240
9.3 大规模集成电路辐射效应243
9.4 宇航大规模电路抗辐射保证要求270
9.5 宇航大规模集成电路抗辐射需求分析275
9.6 电离总剂量辐照试验280
9.7 位移辐照试验291
9.8 单粒子效应辐照试验297
9.9 大规模集成电路应用加固技术334
9.10 本章小结336
第10章 测试337
10.1 概述337
10.2 测试技术面临的挑战337
10.3 测试的实施流程343
10.4 相关技术347
10.5 本章小结367
第11章 商用器件保证368
11.1 概述368
11.2 商用器件宇航应用的需求和现状368
11.3 商用器件的特点和风险372
11.4 商用器件宇航应用的保证方法377
11.5 相关技术387
11.6 典型案例：NAND FLASH存储器筛选和鉴定394
11.7 本章小结410
参考文献411