图书介绍
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- 谭剑波，尤路，黄新等编著 著
- 出版社： 北京：国防工业出版社
- ISBN：9787118091212
- 出版时间：2013
- 标注页数：270页
- 文件大小：74MB
- 文件页数：284页
- 主题词：边界扫描技术
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图书目录
第一章 绪论1
1.1 测试技术的发展1
1.1.1 自动测试设备的出现1
1.1.2 在线测试2
1.2 边界扫描技术的出现4
1.3 边界扫描技术的发展5
1.3.1 IEEE 1149.45
1.3.2 IEEE 1149.56
1.3.3 IEEE 1149.67
1.3.4 IEEE 1149.77
1.3.5 IEEE 15328
1.3.6 标准应用情况8
1.4 边界扫描技术的应用9
1.4.1 国外应用状况9
1.4.2 国内应用状况10
第二章 边界扫描测试原理和测试方法11
2.1 IEEE 1149.111
2.2 边界扫描逻辑的基本结构11
2.2.1 TAP控制器12
2.2.2 指令寄存器15
2.2.3 数据寄存器16
2.2.4 边界寄存器17
2.2.5 边界扫描测试逻辑的结构19
2.2.6 现场可编程集成电路20
2.2.7 边界扫描链20
2.3 边界扫描测试指令集21
2.3.1 非侵入式操作模式指令21
2.3.2 侵入式操作模式23
2.4 边界扫描的测试类型和方法24
2.4.1 边界扫描测试的对象24
2.4.2 基本的边界扫描测试类型24
2.4.3 边界扫描测试系统的构建27
2.5 边界扫描的特点和未来的趋势28
2.5.1 1149.1协议的可扩展性28
2.5.2 边界扫描测试构建成本28
2.5.3 边界扫描测试的优点29
2.5.4 边界扫描测试技术的发展趋势29
2.5.5 其他的测试标准29
2.6 本章总结30
第三章 边界扫描描述语言31
3.1 边界扫描描述语言的背景31
3.2 边界扫描描述语言的适用范围32
3.2.1 测试32
3.2.2 验证33
3.2.3 综合34
3.3 边界扫描描述语言的结构35
3.4 实体描述36
3.4.1 类属说明语句37
3.4.2 逻辑端口描述37
3.4.3 IEEE标准的引用38
3.4.4 Use语句38
3.4.5 器件使用的IEEE标准声明38
3.4.6 器件封装管脚映射39
3.4.7 端口组定义39
3.4.8 TAP端口定义40
3.4.9 限制管脚说明40
3.4.10 指令寄存器描述41
3.4.11 可选寄存器描述42
3.4.12 寄存器访问描述42
3.4.13 边界扫描寄存器描述43
3.4.14 RUNBIST指令描述44
3.4.15 INTEST指令描述45
3.4.16 BSDL的用户自定义扩展45
3.4.17 安全提醒45
3.5 BSDL语言的进一步探讨45
3.5.1 单元合并46
3.5.2 非对称性驱动器47
3.6 关于74BCT8374的BSDL描述48
3.7 包集合和包集合体50
3.7.1 STD_1149_1_200150
3.7.2 边界扫描单元的描述54
3.8 边界扫描单元在BSDL语言中的定义55
3.8.1 BC_1单元55
3.8.2 BC_2单元56
3.8.3 BC_3单元56
3.8.4 BC_4单元57
3.8.5 BC_5单元57
3.8.6 BC_6单元58
3.8.7 BC_7单元58
3.8.8 BC_8单元59
3.8.9 BC_9单元59
3.8.10 BC_10单元59
3.9 BSDL的编写规范60
3.10 本章总结61
第四章 边界扫描测试算法62
4.1 测试向量生成的原理62
4.1.1 一些基本概念62
4.1.2 一些基本定理64
4.2 常用测试矩阵生成方法66
4.2.1 基于测试向量生成的算法66
4.2.2 自适应算法67
4.3 本章总结69
第五章 基于边界扫描的可测试性设计70
5.1 可测试性与边界扫描70
5.1.1 可测试性70
5.1.2 可测试性设计流程71
5.1.3 可测试性衡量标准72
5.2 基于IEEE 1149.1标准的可测试性设计73
5.2.1 边界扫描链路的可测试设计要求73
5.2.2 基本电路可测试设计要求74
5.2.3 分机级可测试设计要求77
5.2.4 其他可测试设计要求78
5.3 设计实例78
5.3.1 JTAG链路设计78
5.3.2 存储器的可测试性设计79
5.3.3 接口电路的可测试性设计81
5.3.4 电源的可测试性设计81
5.4 本章总结84
第六章 混合信号电路边界扫描测试85
6.1 概述85
6.1.1 互连测试86
6.1.2 参数测试87
6.1.3 内部测试87
6.2 IEEE 1149.4标准结构88
6.2.1 TAP控制器89
6.2.2 模拟测试访问端口ATAP89
6.2.3 寄存器结构89
6.2.4 测试总线接口电路90
6.2.5 边界扫描结构95
6.3 IEEE 1149.4标准测试指令集101
6.3.1 强制性指令101
6.3.2 可选指令102
6.4 混合信号电路边界扫描测试方法104
6.4.1 互连测试104
6.4.2 扩展互连测试105
6.4.3 网络测试108
6.5 混合信号电路边界扫描测试系统的组建108
6.5.1 测试系统设计方案109
6.5.2 测试系统硬件平台110
6.5.3 测试系统软件平台111
6.5.4 混合信号边界扫描测试被测电路的可测性设计111
6.6 混合信号电路边界扫描测试应用实例112
6.6.1 无源分立元件参数测试112
6.6.2 有源分立元件参数测试116
6.6.3 有源网络的边界扫描测试方法119
6.7 本章总结121
第七章 系统级边界扫描测试技术122
7.1 MTM总线概述122
7.2 MTM总线体系结构122
7.2.1 MTM总线系统测试与维护策略123
7.2.2 MTM总线信号124
7.2.3 MTM总线协议层125
7.3 MTM总线物理层125
7.3.1 MTM总线冲突／错误检测126
7.3.2 MTM总线时序要求126
7.4 MTM总线链路层128
7.4.1 MTM总线报文的分类128
7.4.2 主模块链路层130
7.4.3 从模块链路层132
7.5 MTM总线消息层133
7.5.1 主模块报文层134
7.5.2 从模块报文层135
7.5.3 MTM总线命令集137
7.6 MTM总线数据传输端口149
7.7 系统级边界扫描测试系统153
7.7.1 系统级可测性设计结构153
7.7.2 测试系统设计要求155
7.7.3 系统总体结构设计156
7.7.4 MTM总线主模块157
7.7.5 MTM总线从模块159
7.7.6 系统软件平台设计161
7.8 本章总结163
第八章 高速数字网络边界扫描测试164
8.1 概述164
8.2 高级I/O的测试技术164
8.2.1 信号管脚类型164
8.2.2 信号耦合方式164
8.2.3 差分终端168
8.2.4 测试信号的实现169
8.2.5 测试接收器171
8.3 IEEE 1149.6标准的结构与规范175
8.3.1 高速数字边界扫描器件的基本结构176
8.3.2 IEEE 1149.6交流测试指令177
8.3.3 IEEE 1149.6边界扫描单元结构179
8.4 交流耦合／差分互连网络故障模型184
8.5 高级数字网络的边界扫描测试应用185
8.5.1 差分交流耦合高速数字DEMO板设计185
8.5.2 差分／交流耦合高速数字电路的测试186
8.6 本章总结189
第九章 边界扫描技术在芯片设计中的应用190
9.1 边界扫描技术与芯片设计190
9.2 芯片级边界扫描设计192
9.2.1 数字电路的设计流程192
9.2.2 边界扫描电路结构193
9.2.3 TAP控制器的设计194
9.2.4 指令寄存器设计196
9.2.5 数据寄存器199
9.2.6 边界扫描单元设计199
9.3 边界扫描技术在BWDSP100芯片中的应用实现202
9.3.1 芯片级边界扫描设计工具202
9.3.2 BSDArchitect软件设计流程203
9.3.3 具体设计过程203
9.4 利用BSDL文件进行板级测试212
9.4.1 BWDSP100芯片的BSDL描述213
9.4.2 BWDSP100应用板卡自动测试设备214
9.5 本章总结215
第十章 网络型边界扫描测试控制器的设计216
10.1 设计需求分析216
10.1.1 网络化功能需求216
10.1.2 边界扫描测试功能需求217
10.2 测试控制器总体设计217
10.3 测试控制器硬件设计218
10.3.1 以太网接口电路219
10.3.2 ACT8990接口电路219
10.4 ACT8990底层驱动程序221
10.4.1 ACT8990复位及配置222
10.4.2 装入测试指令222
10.4.3 装入测试向量222
10.5 以太网接口底层程序223
10.5.1 uIPTCP/IP协议栈223
10.5.2 底层网络设备驱动程序224
10.5.3 LPC2487以太网应用程序225
10.6 测试应用实例227
10.6.1 被测电路设计227
10.6.2 边界扫描结构完备性测试227
10.6.3 互连测试228
10.6.4 功能测试230
10.6.5 CLUSTER测试230
10.7 本章总结231
第十一章 边界扫描测试工具的应用232
11.1 ScanWorks简介232
11.2 ScanWorks系统功能及组成232
11.3 ScanWorks测试开发流程233
11.3.1 工程（project）233
11.3.2 设计描述（DesignDescription）234
11.3.3 测试行为（Action）234
11.3.4 序列（Sequence）236
11.4 基于ScanWorks软件的工程应用236
11.4.1 电路板测试236
11.4.2 FPGA的配置与编程248
11.4.3 软件API调用252
11.5 本章总结252
第十二章 基于边界扫描技术的测试系统设计253
12.1 通用测试系统组成及功能253
12.2 系统工作原理253
12.3 测试系统的设计方法255
12.3.1 测试底板的设计255
12.3.2 适配器的设计257
12.3.3 测试系统的软件设计257
12.4 测试系统的工程化实例259
12.4.1 系统硬件设计259
12.4.2 测试过程259
12.5 本章总结265
参考文献267